高加速穩(wěn)態(tài)濕熱&應(yīng)力試驗(yàn)--HAST試驗(yàn)原理
高加速穩(wěn)態(tài)濕熱&應(yīng)力試驗(yàn)--HAST試驗(yàn)原理
產(chǎn)品用途
■HAST試驗(yàn)Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Testing的縮寫，即：高加速穩(wěn)態(tài)濕熱&應(yīng)力試驗(yàn)（高加速溫度、濕度、應(yīng)力試驗(yàn)），在GB/T2423.40-1997對(duì)應(yīng)描述為“未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)”。
■HAST試驗(yàn)是針對(duì)非氣密性封裝器件，通過溫度、濕度、壓力、偏壓來(lái)加速濕氣進(jìn)入到器件內(nèi)部，從而加速器件老化，考察器件抗?jié)駳饽芰Α?/span>
■HAST試驗(yàn)的失效機(jī)理與傳統(tǒng)的恒溫恒濕試驗(yàn)（85℃/85%RH或者“THB”）的失效機(jī)理一致。
HAST試驗(yàn)的必要性和意義
■常規(guī)評(píng)估產(chǎn)品可靠性
※通過溫度，濕度，偏壓等應(yīng)力，來(lái)加速評(píng)估產(chǎn)品可靠性。
■較傳統(tǒng)的溫濕度試驗(yàn)，大大縮短產(chǎn)品研發(fā)周期
※HAST試驗(yàn)溫度通常高于105℃，在濕度的環(huán)境下會(huì)產(chǎn)生較大的壓力，從而加速濕氣進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部，能較快的使器件內(nèi)部達(dá)到飽和，先常用的HAST試驗(yàn)96h代替THB試驗(yàn)1000h,有效縮短了試驗(yàn)的時(shí)間。
※高溫高濕作用于試驗(yàn)樣品上，可以構(gòu)成水汽吸附、吸收和擴(kuò)散，材料在吸入濕度后發(fā)生膨脹，性能變差，強(qiáng)度降低，機(jī)械性能下降，吸附了水汽的絕緣材料引起電性能下降等。
■有效提高公司試驗(yàn)?zāi)芰εc效率
※由于試驗(yàn)時(shí)間的降低，在同樣的時(shí)間內(nèi)，能對(duì)更多的產(chǎn)品進(jìn)行溫濕度的靠性試驗(yàn)驗(yàn)證。
※根據(jù)美國(guó)權(quán)威機(jī)構(gòu)統(tǒng)計(jì)，對(duì)于電子器件，濕度對(duì)器件的失效影響占比約19%。
※其中濕度引起的主要失效模式：腐蝕、粒子遷移、擴(kuò)散、水解。
■對(duì)于非氣密性元件，濕氣常常通過器件表面以及管腳結(jié)合處進(jìn)入器件，當(dāng)產(chǎn)品抗?jié)衲芰^弱時(shí)，產(chǎn)品就有可能在使用中失效，HAST試驗(yàn)就是通過高溫、高濕、高壓以及Bias來(lái)加速濕氣進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部，評(píng)估產(chǎn)品的抗?jié)駳獾哪芰Α?/span>
■在高壓環(huán)境下，環(huán)境濕氣通過器件表面封裝的Resin以及管腳的結(jié)合面進(jìn)入到Chip表面，在施以偏壓Bias的作用下，從而引起Chip表面及引線的腐蝕，導(dǎo)致失效。
■HAST試驗(yàn)加速器件老化，產(chǎn)品工程師可以利用失效分析等手段對(duì)試驗(yàn)前后的產(chǎn)品進(jìn)行對(duì)比分析，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的可靠性改善的目的。
HAST試驗(yàn)常用測(cè)試條件
| HAST試驗(yàn)常用測(cè)試條件 | |||||
| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) Standard Name | 測(cè)試條件 Test conditions | ||||
| 溫度 Temperature (°C) | 濕度 Humidity (%rh) | 偏壓 Biased | 時(shí)間 Time (h) | 備注 Remark | |
| IEC 60068-2-66 | 110±2 | 85±5 | 任意施加電壓 | 96,192,408 (0, +2) | |
| 120±2 | 85±5 | 48,96,192 (0, +2) | |||
| 130±2 | 85±5 | 24,48,96 (0, +2) | |||
| AEC-Q101 | 110±2 | 85±5 | 持續(xù)或間斷 施加電壓 | 254 (0, +2) | |
| 130±2 | 85±5 | 96 (0, +2) | |||
| JESD22-A101C | 85±2 | 85±5 | 持續(xù)或間斷 施加電壓 | 24.168.1000(0, +2) | |
| JESD22-A110E | 110±2 | 85±5 | 持續(xù)或間斷 施加電壓 | 264 (0, +2) | |
| 130±2 | 85±5 | 96 (0, +2) | |||
| JESD22-A118B | 110±2 | 85±5 | 持續(xù)或間斷 施加電壓 | 264 (0, +2) | |
| 130±2 | 85±5 | 96 (0, +2) | |||
| JIS C0096-2001 | 110±2 | 85±5 | 任意施加電壓 | 96,192,408 (0, +2) | |
| 120±2 | 85±5 | 48,96,192 (0, +2) | |||
| 130±2 | 85±5 | 24,48,96 (0, +2) | |||
| JPCA-ET08-2002 | 110±2 | 85±5 | 任意施加電壓 DC-100V | 96,192,408 (0, +2) | |
| 120±2 | 85±5 | 48,96,192 (0, +2) | |||
| 130±2 | 85±5 | 96,192,408 (0, +2) | |||
| JESD22-A102E | 121±2 | 100±5 | 任意施加電壓 | 24 (0, +2) 48 (0, +2) 96 (0, +5) 168 (0, +5) 240 (0, +8) 336 (0, +8) | |
科明HAST試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)
■雙層圓筒結(jié)構(gòu)，多重保護(hù)功能
內(nèi)膽采用雙層圓弧結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，采用316不銹鋼材質(zhì)，可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
■應(yīng)用場(chǎng)景豐富，兼容各種試驗(yàn)方法
產(chǎn)品一機(jī)多用，滿足元件類非氣密性封裝測(cè)試，適用高溫高濕、高低溫循環(huán)、雙85（85℃/85%R.H）、雙95（95℃/95%R.H）、高溫高濕高壓等靠性測(cè)試。
■綜合性強(qiáng)，試驗(yàn)條件可隨意設(shè)定
滿足偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼?yàn)以及飽和PCT高壓蒸汽（蒸煮）試驗(yàn)，大小規(guī)格型號(hào)可按樣品特點(diǎn)非標(biāo)定制。
■低碳節(jié)能，運(yùn)行穩(wěn)定可靠，噪音低
行業(yè)率先應(yīng)用的流體仿真設(shè)計(jì)技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)，對(duì)成品葉輪采用逆向建模及仿真技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)較同類產(chǎn)品能耗降低30%，噪音降低25%。
科明HAST試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)特點(diǎn)
采用科明7寸彩色觸摸屏智能控制器，強(qiáng)制對(duì)流調(diào)溫調(diào)濕式，畫面顯示包括（溫濕度設(shè)定SV實(shí)際pv值，執(zhí)行程序號(hào)碼、段次、剩余時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間等），定點(diǎn)或程序動(dòng)作狀態(tài)顯示。分辨率，溫度: + 0.1℃；濕度: + 0.1%，最大可用程序容量10組，記憶容量每組50 段次(step)，可重復(fù)執(zhí)行命令，每一個(gè)命令可達(dá)99次循環(huán)。可連接計(jì)算機(jī)顯示曲線數(shù)據(jù)采集、可做為監(jiān)控及遙控系統(tǒng)、可做多臺(tái)機(jī)器同步控制。
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